凌久微“一种基于FPGA的HDMIPHY环回测试的方法及装置”专利获授权

天眼查显示，武汉凌久微电子有限公司近日取得一项名为“一种基于FPGA的HDMIPHY环回测试的方法及装置”的专利，授权公告号为CN115866341B，授权公告日为2024年5月28日，申请日为2022年12月5日。

本发明适用于芯片测试领域，提供一种基于FPGA的HDMIPHY环回测试的方法及装置，本发明HDMIPHY环回测试的方法绕过HDMI协议层，对HDMIPHY直接施加激励，接收并实现信号降速后进行环回，进而比对，此方式不需要开发芯片，减少风险，也不需要HDMIPHY内部能产生规律的数据源，对HDMIPHY没有过多限制，本方法通用性更好；另外采用FPGA平台实现，操作灵活，调试手段丰富，绕过HDMI协议层，避免了编解码的资源开销。