中科四点零即将亮相集微大会半导体展

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中科四点零将于2026年5月27日至29日亮相在上海张江科学会堂举办的“2026第十届集微大会半导体展”。

展会时间:2026年5月27日-29日(9:00-18:00)

展会地点:中国·上海 张江科学会堂

展位号:A19

【现场展品预告】

本次展会,我们将重点展示多款自研射频测试核心设备与系统级解决方案,覆盖从研发验证到量产测试的全流程需求。现场将提供设备实操演示与技术交流,诚邀各位莅临指导。

1.VF5000 PAMiD SIP ATE测试机

即VectorFlex系列中的VF5000自动测试平台,面向高度集成的PAMiD、PAMiF等系统级封装(SiP)全面测试。采用模块化PXIe架构,最高支持48路并行RF端口测试,核心配置集成了自研矢量收发仪、多端口矢量网络分析仪等,搭载SmartRF Studio软件框架,可一站式完成复杂射频模组的S参数、非线性、EVM等各类指标量产测试。

2.N2609M 6端口矢量网络分析仪

国内首款PXI六端口矢量网络分析仪,频率范围10MHz至9GHz,动态范围达132dB。支持板卡级联(最高可扩展至48端口)及多种校准方式,摆脱传统开关矩阵切换损耗,具备毫秒级高速触发连续测试能力,专为多端口射频器件(如开关、DiFEM、滤波器)的量产效率提升设计。

3.T2008M 矢量收发机

专为现代无线通信测试设计,集成矢量信号发生器与分析仪功能。频率覆盖400MHz至8GHz,具备960MHz瞬时分析带宽,在802.11ax 80MHz下EVM指标可达≤-51dB。基于零中频架构优化,支持Wi-Fi 7、5G NR等主流制式解调分析及第三方波形导入,适用于研发验证与产线测试。

4.S3020M 信号发生器

频率覆盖100kHz至20GHz。具备优化的ALC设计、优异的近端杂散抑制以及全电子衰减器架构,提供高稳定度、高纯净度的信号激励,适合精密测量与自动化产线。

5.A3044M 信号分析仪(P1工程样机)

本次展会首次线下亮相。中科四点零首款PXI信号分析仪,频率覆盖可达44GHz,采用成熟可靠的经典架构,具备丰富的测量应用和成熟的矢量调制分析软件,面向下一代高频测试需求。

【欢迎莅临】

如需了解设备详细参数或进行现场实操体验,欢迎届时前往A19展位与我们面对面交流,共同探讨射频测试的未来趋势!

责编: 爱集微
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