全球首条!上海35微米功率半导体超薄晶圆工艺及封装测试线建成

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据上海松江消息,位于松江综保区的尼西半导体科技(上海)有限公司已经建成全球首条35微米功率半导体超薄晶圆工艺及封装测试生产线。这一厚度突破让功率芯片的导通电阻和热阻大幅降低,显著提升了器件的能效与散热性能,为新能源汽车、5G基站等高功率密度应用场景提供了核心支撑,为国产器件进入高压平台、快充等市场提供了量产底座。

(来源:上海松江)

晶圆越薄,性能越好,但加工难度也直线上升。因为晶圆薄到50微米以下后,脆得像薯片,稍微受力就可能裂开。

据介绍,在加工工艺方面,尼西半导体将晶圆加工精度控制在35±1.5微米,并通过化学腐蚀技术消除92%的研磨应力损伤,使极薄晶圆的碎片率降至0.1%以内。切割环节采用定制化激光技术替代传统刀片,热影响区显著缩小,切割良率达到98.5%。

设备参数显示,产线研磨机加工精度达0.1微米,片内厚度偏差小于2微米;激光切割机切缝宽度仅11微米,相较传统工艺可提升约10%的芯片有效面积利用率。

芯片做薄了,好处直接体现在电和热上。载流子跑通芯片的时间缩短40%,发热量下降,导通损耗就少了。热阻比100微米的标准品下降60%,相当于给芯片装上了更好的散热片。封装环节也跟着受益——可以做双面散热,模块热阻再降30%,功率循环寿命翻了5倍。

而应用端测算表明,同等晶圆面积下芯片产出量增加20%,可使手机快充模块体积缩减一半,并为电动汽车电控单元减重3公斤。

目前,该产线测试环节单日产能可达12万颗成品,键合机单日产能约400片。产线中的键合、研磨、切割及解键合等核心装备,均由尼西半导体与国内设备厂商联合研发,在协同创新中实现了关键设备的自主可控,填补了国内相关制造领域的应用空白。

责编: 赵碧莹
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