喜报！御微半导体荣获国家科学技术进步奖一等奖

7月8日，国家科学技术奖励大会、两院院士大会、中国科协第十一次全国代表大会在京召开，2025年度国家科学技术奖揭晓。御微半导体作为第二单位参与完成的项目“量子化光晶格常数的纳米计量关键技术及集成电路应用”荣获国家科学技术进步奖一等奖。该项目由同济大学牵头，御微半导体与中国计量科学研究院、桂林电子科技大学、上海市计量测试技术研究院等单位合作完成。历经二十余年攻关，项目团队制造出一系列纳米级长度和角度国家一级标准物质，为集成电路等纳米制造领域提供了用于仪器校准与标定的“精准标尺”。

计量是测量的科学及应用。只有测得出，才能造得出；只有测得准，才能造得精。纳米计量是实现纳米制造准确性的前提和保障，“量子化实物标准的纳米计量关键技术”是通过光晶格势阱操控冷原子形成皮米精度的长度和角度标准，并通过集成电路制造技术将上述标准固化为产业用标准片。